奥林巴斯CIX100检测系统：简化技术清洁度

保证部件、工件和流体具有合格的清洁度是制造过程的核心所在。在对大多为微米级尺寸的污染物和异物进行计数、分析和分类的过程中达到高标准，对于*终产品的开发、制造、生产和质量控制等各种工作流程都至关重要。各种国际和国家指令对于如何确定基本加工零件上颗粒污染的方法和记录要求都有描述，因为颗粒污染会直接影响工件和部件的使用寿命。目前的标准要求提供有关污染性质的详细信息，如颗粒的数量、粒度分布和颗粒特性。
奥林巴斯CIX100清洁度检测系统旨在满足现代工业以及国家和国际指令对清洁度的要求。

标准的清洁度检测流程：准备（第1-3步）和检测（第4-6步）。第1步：提取，第2步：过滤，第3步：称重，第4步：检测，第5步：审核，第6步：结果。

                                               

简单、可靠

硬件和软件无缝集成，打造出一款可以提供可靠、准确数据的耐用型高效率系统。
· 易于设置的自动化、交钥匙解决方案
· 稳定的测量系统设置有利于提供可重复的结果
· 卓 越的光学性能和可再现的成像条件
· 自动化系统通过集成的校准装置进行自检
· 全系统集成，实现所有硬件部件的自动化控制
· 支持各种圆形和矩形样品架

     

通过直观的指导提高生产力

· 专用、简单的工作流程可*大限度地减少用户操作，并提供可靠的数据 - 与操作员和经验水平无关
· 借助便于使用的工具轻松修改检测数据
· 分步指导可提高生产率，并缩短检测时间
· 用户权限管理可限制功能，以尽量减少人为错误
· 触摸屏显示大尺寸按钮，容易点击
· 符合要求的一键式报告，实现高效的文件记录
· 所有数据均自动保存，并可轻松导出和共享
· 采用可选材料分析解决方案的独立显微镜模式

快速实时分析

创 新的一体化扫描解决方案检测反光（金属）和非反光颗粒的速度是需要两幅独立图像的传统方法的两倍。即时反馈颗粒计数和颗粒分类的信息可帮助您快速做出决策。

· 用于快速识别滤膜范围、颗粒簇或*差粒子的概览图像

· 对2.5 µm至42 mm范围内的污染物颗粒进行自动实时处理和分类

· 高效：系统在一次扫描中检测反光和非反光颗粒

· 实时分析使您能对结果做出实时反应

· 可根据选定的行业标准定制符合要求的结果

有效的数据评估

借助强大的、易于使用的工具修改检测数据，支持公司和国际清洁度检测标准。清晰呈现所有相关的检测结果，节省时间。

· 图像和数据的有组织排列，使数据审核效率更高

· 可选择各种视图，立即识别颗粒

· 颗粒位置和缩略图链接到实时图像

· 轻松地对检测数据进行重新分类、审核、修改和重新计算

· 实时显示整体清洁度代码、颗粒和分类表

· 趋势分析，以确定随时间推移而出现的潜在的测量偏差

· 在一个视图中显示完整的检测数据

一键式报告制作方式符合国际标准中阐述的要求和方法。报告可以定制（例如，包括颗粒形态），从而可轻松满足不同公司的特定标准。使用预定义的合规模板生成专业报告。